基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 闪存SSD鉴定案例 闪存SSD鉴定案例
HTS725050A9A364分区状态RAW恢复成功

硬盘型号:HTS725050A9A364。IQsflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

lxwm.jpgIQsflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

客户笔记本是WIN8系统,在安装程序后,关机后在开,发现电脑进不了系统,于是通过PE进去查看硬盘,发现原本硬盘有四个分区的,现在变成了一个GPT保护分区,分区格式RAW,导致所有数据丢失。客户将笔记本带到本公司,本公司将笔记本硬盘拆卸下来,挂载到本公司专业恢复设备上,发现造成此情况的是由于硬盘逻辑错误造成的,本公司分析硬盘原本逻辑结构,通过恢复工具将数据顺利提出,客户验证数据,恢复非常完美。IQsflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

上一篇: 台电8G U盘数据恢复 主控芯片:IT1170E
下一篇:东芝超极本Z830-T06S 固态硬盘128G覆盖部分恢复
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|