基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
(图文)西数320G硬盘数据恢复成功磁头损坏
故障:突然断电导致数据无法读取pQZflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件
解决方案:南京西数工程师通过镜像以及无尘室开盘的方案,将客户数据重组较终全部恢复出来。pQZflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件
恢复结果:100%pQZflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件
pQZflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件
上一篇:(图文)WD10EZEX硬盘数据恢复成功
下一篇:(图文)南京会计事务所硬盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|