基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
上海国信证券40G西捷移动硬盘开盘恢复成功

 故障硬盘使用中不下心摔到地上,导致电脑不认盘,数据读不出来。u54flash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

数据恢复:根据客户提供的故障经过,西数数据恢复工程师认为、该硬盘是由于受到剧烈震动而导致磁头变形使位置偏移,客户拿盘到过南京好几家数据恢复公司,均告之需要开盘换磁头,换磁头都需要再购买同型号的备用盘作为配件,费用高而且也有一定的风险。西数数据恢复工程师根据检测结果当场就告诉客户:不用换磁头也能恢复出数据,我们采用先进的磁头校正技术来修复偏移的磁头,成功率很高。客户高兴的同意将盘留下做数据恢复,工程师经过2天的努力,客户数据全部恢复!
上一篇:扬州展望科技西捷10.2G硬盘开盘恢复成功
下一篇:金碟软件南京分公司60G2.5寸盘恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|