基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
[硬盘故障恢复案例]日立硬盘HTS541616系列

 MDL:HTS541616J9SA007onflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

S/N:GJH4GZVE7onflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

日立笔记本盘,客户送盘过来,非常着急,据客户自己描述说,突然进不了系统,7onflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

通过工程师检测后,发现此盘存在大量物理坏到,若直接挂载到机器上拷贝,此盘磁头必定损坏,大量磁粉也将附着到磁铁上,这样较终数据是不可能再导出的.但是我们有读取此种故障盘的专业恢复工具PC3000-UDMA ,于是客户同意恢复后,我们工程师成功恢复了客户的重要数据.7onflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

上一篇:[开盘成功案例]无锡海纳ST3160815AS盘 开盘数据恢复
下一篇:衡阳南华大学ST3320613AS不认盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|