基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
数据恢复/南京开盘数据恢复

 南京开盘数据恢复成功,南京张先生日立硬盘由于磁头损坏而导致数据全部丢失。经张先生介绍,他提着笔记本不小心撞到了坚硬的物体上,扥在磁带开电脑时,数据丢失了。南京西数工程师通过检测横快找到了数据丢失的原因,硬盘由于碰撞导致磁头损坏,磁盘无法读取数据,在得到客户的同意后,工程师在第一时间为客户做了开盘恢复,凭借过硬的技术较终通过开盘将数据全部恢复成功!5IWflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

上一篇:数据恢复/南京数据恢复开盘恢复
下一篇:开盘数据恢复/南京王先生开盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|